變壓器繞組變形測試儀（頻響法）用于測試6KV及以上電壓等級電力變壓器及其它特殊用途的變壓器，電力變壓器在運行或者運輸過程中不可避免地要遭受各種故障短路電流的沖擊或者物理撞擊，在短路電流產(chǎn)生的強大電動力作用下，變壓器繞組可能失去穩(wěn)定性，導致局部扭曲、鼓包或移位等*變形現(xiàn)象，這樣將嚴重影響變壓器的安全運行。按國家電力行業(yè)標準DL/T911－2004采用頻率響應分析法測量變壓器的繞組變形，是通過檢測變壓器各個繞組的幅頻響應特性，并對檢測結(jié)果進行縱向或橫向比較，根據(jù)幅頻響應特性的變化程度，判斷變壓器繞組可能發(fā)生的變形情況。

    變壓器繞組變形測試儀（頻響法）由測量部分及分析軟件部分組成，測量部分是由信號生成及信號測量組成的黑匣子，分析部分由筆記本電腦完成，測量部分通過USB或網(wǎng)絡與筆記本電腦連接。
ST-3006型變壓器繞組變形測 試儀的主要技術特色：
不對變壓器進行吊罩、拆裝的情況下就可以進行測試。
使用目前zui為流行的掃頻法進行測量。
本儀器可以對6kV以上的變壓器進行測量。
采用分體式結(jié)構(gòu)，測試主機與主控計算機之間采用USB連接，即插即用。
現(xiàn)場接線簡單、使用方便。
測量動態(tài)范圍寬：－100dB～20dB。
分析軟件功能強大，軟件、硬件指標滿足國標DL/T911-2004。
變壓器繞組變 形測試儀（頻響法）的主要技術指標：
測試主機與PC接口：USB。
信號源：儀器自帶一個通道信號輸出作為掃頻的激勵信號；信號輸出為標準正弦波，信號輸出幅度可以軟件調(diào)節(jié)，zui大幅度±10V，信號輸出阻抗為50Ω。
兩個采集通道，一個采集激勵信號，一個采集響應信號，用于計算傳遞函數(shù)。
采集通道量化精度：14位。
每通道zui大存儲容量：64K樣點。
每通道zui高采樣率：25Msps。
采集通道輸入阻抗：1MΩ。
掃頻測量范圍：500Hz－2000kHz。
掃描方式：采用線形分布的掃頻測量方式。
掃描頻率精度：信號源輸出正弦信號的頻率精度不大于0.01%。
掃頻測量頻點：固定模式或用戶自定義。
符合國家電力行業(yè)標準：DL/T911-2004。
測試分析軟件主要特色：
采用windows平臺，兼容Window 2000/Window XP。
可以同時加載2條曲線，各條曲線相關參數(shù)自動計算，自動診斷繞組的變形情況，給出診斷的參考結(jié)論。
軟件管理功能強大，充分考慮現(xiàn)場使用的需要，自動保存環(huán)境條件參數(shù)，以便作變壓器繞組變形診斷時提供依據(jù)。測量數(shù)據(jù)自動存盤、具有彩色打印功能，方便用戶出測試報告。
軟件人性化特點明顯，測量的各種條件多為選擇項，不用在現(xiàn)場作很多的輸入，使用人員更加的方便。
軟件智能化程度高，在輸入、輸出信號連接好之后，只需要按一個鍵就可以完成所有的測量工作。
軟件界面簡潔直觀。

ST-3006型變壓器繞組變形測 試儀安全工作準則
在使用變壓器繞組測試儀器前，請你仔細閱讀本章。以便熟知重要的安全要點和警告。
請遵循本手冊的說明使用本測試儀，否則測試儀所提供的保護可能會受到損壞。
本手冊中：
[警告]是指對使用者或采集儀器構(gòu)成危險的情況或操作。
[小心]是指對測試儀或被試變壓器可能造成損壞的情況或操作。
[注意]是指對測試結(jié)果可能造成誤差的情況或操作。
為了避免人身傷害，同時為避免測試儀或被試變壓器受到損壞，請遵循以下準則進行操作：
[警告]變壓器鐵心必須與外殼可靠接地。測試儀外殼、測量阻抗外殼必須與變壓器外殼可靠接地。
[警告]測試儀的“接地"沒有連接正確前，請不要開始繞組變形測試。
[警告]試驗前應將被試變壓器線端充分放電。
[注意]使用前，請先檢查測試儀的外觀，檢查電源開關位置是否在“關"的位置、各接線端子是否正常。
[注意]繞組變形測試應在解開變壓器所有引線(包括架空線、封閉母線和電纜)的前提下進行，并使這些引線盡可能的遠離變壓器套管(周圍接地體和金屬懸浮物需離開變壓器套20cm以上)，尤其是與封閉母線連接的變壓器。
[注意]測試時必須正確記錄分接開關的位置。應盡可能將被試變壓器的分接開關放置在第1分接，特別對有載調(diào)壓變壓器，以獲取較全面的繞組信息。對于無載調(diào)壓變壓器，應保證每次測量在同一分接位置，便于比較。
[注意]應保證測量阻抗的接線鉗與套管線夾緊密接觸。如果套管線夾上有導電膏或銹跡，必須使用砂布或干燥的棉布擦拭干凈。

設備維護
本節(jié)提供基本的維護資料，請盡量不要嘗試去拆裝、更改和維修變壓器繞 組變形測試儀（頻響法）。
6.1基本維護
定期用干凈的布擦拭測試儀及其附件的表面。
測試儀應放置在干凈、濕度較低的位置，并防止臟污的灰塵進入測試儀內(nèi)部。